电离层直接探测-问问二三

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电离层直接探测

电离层直接探测是指利用火箭、卫星等空间飞行器将探测装置携带到电离层中，测量电离层介质对装置的直接作用，以获得电离层参量的方法。根据测量的对象和目的，探测装置主要有探针（收集电荷微粒的导电体装置）和磁力计。探针分电子探针、离子探针和质谱探针。

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